| FE-SEM/EDS |
TESCAN/OXFORD |
MAGNA/Ultima Max |
미세구조의 형상, 결함, 표면상태 분석, 원소 성분 분석 |
| Normal-SEM/EDS |
TESCAN/Bruker |
Vega4/X Flash630 |
미세구조의 형상, 결함, 표면상태 분석, 원소 성분 분석 |
| 3D Laser Microscope |
OLYMPUS |
OLS5100 |
3차원 정밀 측정, 표면 형상과 거칠기 및 단차 분석 |
| Optical Microscope |
OLYMPUS |
SZ2-ST |
시편의 기본 구조 및 형상 확인 |
| XRD |
RIGAKU |
Smartlab SE |
시료의 결정 구조, 결정성, 상 분석 |
| XRF |
Helmut Fischer |
XAN500 |
비파괴 방식의 원소 성분 분석 |
| UV-VIS |
NIPPON DENSHOKU |
SD-4000 |
시편의 투과율, 흡수율, 반사율 분석 |
| UTM |
SHIMADZU |
50kNVD |
기계적 특성 시험, 코팅 접합 강도 분석 |
| Vicker’s Hardness |
SHIMADZU |
HMV-G21ST |
재료 표면의 미세 경도 분석 |
| Withstand voltage |
KIKUSUI |
TOS9201 |
시편의 절연 내성 시험 |
